阐述IC测试座的性能及结构特点

　　IC测试座主要就是用于检查在线的单个IC元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件作用和数字器件逻辑作用测试。
　　IC测试座就是测试期间在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的作用及性能指标。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。
　　IC测试座采用手动翻盖式结构和自动下压式结构，操作方便；翻盖的上盖的IC压板采用弹压式结构，能自动调节下压力，保证IC的压力均匀。
　　探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠而不会损坏锡球。高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，生产效率高探针可更换，维修方便，成本低。